Münster 1999 – wissenschaftliches Programm

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AM: Magnetismus

AM 10: Postersitzung

AM 10.58: Poster

Dienstag, 23. März 1999, 16:15–20:00, F\"urstenberghaus

Beobachtung von Probenrandeffekten in der Domänenstruktur dünner Fe(100)-Schichten mittels Magnetokraftmikroskopie — •J. Lösch, U. Memmert und U. Hartmann — Institut für Experimentalphysik, Universität des Saarlandes, D-66041 Saarbrücken

Ein Ultrahochvakuum-Magnetokraftmikroskop (MFM) wurde verwendet, um 10 nm dicke, in situ auf Ag(100) deponierte Fe(100)-Schichten abzubilden. Das verwendete Mikroskop erlaubt nicht nur, 20 µm × 20 µm große Bereiche abzurastern, sondern auch, die Probe kontrolliert gegenüber der MFM-Sonde in einem Bereich von 3 mm × 3 mm zu verschieben. Dies ermöglicht es, MFM-Aufnahmen von zentralen Bereichen der Probenoberfläche mit Aufnahmen vom Probenrand zu vergleichen. Die MFM-Abbildungen zeigen in zentralen Bereichen der Probenoberfläche nur vereinzelt Domänengrenzen, die als 90^∘-Néel-Wände identifiziert werden können. Eine Zuordnung der lokalen Magnetisierungsrichtungen in den Domänen wird sowohl durch die Identifikation einer signifikanten Ripple-Struktur als auch durch das Abbilden des Streufelds von vereinzelten Defektstrukturen ermöglicht. In der Nähe der in (110)-Richtung verlaufenden Probenkante findet sich eine signifikante Verästelung der Domänenstruktur („Echelon-pattern“), die sowohl 90^∘- als auch 180^∘-Néel-Wände beinhaltet. Im Rahmen dieser Messungen konnten bisher keine Anzeichen für das Auftreten von Abschlußdomänen mit lokalen Magnetisierungsrichtungen parallel zur Probenkante, d.h. entlang der magnetisch harten (110)-Achse, gefunden werden.