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AM: Magnetismus
AM 18: Oberfl
ächenmagnetismus II
AM 18.3: Vortrag
Donnerstag, 25. März 1999, 15:15–15:30, F5
Charakterisierung eines SPLEED–Detektors für spinpolarisierte Sekundärelektronen — •C. Math1, M. Meier1, P. Hayes1, M. Escher2, G. Rangelov1 und M. Donath1 — 1Max–Planck–Institut für Plasmaphysik, Boltzmannstr. 2, D-85748 Garching — 2Focus GmbH, D-65510 Hünstetten–Görsroth
Um eine dünne magnetische Schicht hinsichtlich ihrer elektronischen Struktur und ihrer makroskopischen magnetischen Eigenschaften untersuchen zu können, wurde eine Apparatur zur spinaufgelösten Inversen Photoemission (SPIPE) um einen Spinpolarisationsdetektor für Sekundärelektronen erweitert (SPLEED–Detektor, Firma Focus GmbH). Die spinpolarisierte Sekundärelektronenemission liefert Informationen über die Oberflächenmagnetisierung der Probe bei gleicher Informationstiefe wie SPIPE. Mit Hilfe einer Elektronenquelle bekannter Spinpolarisation wurde die Shermanfunktion des Detektors in Abhängigkeit von der Energie der einfallenden Elektronen gemessen. Außerdem wurden die Transmissionseigenschaften der Detektoroptik bestimmt und mit entsprechenden Simulationsergebnissen verglichen. Testmessungen der Spinpolarisation von Sekundärelektronen aus Fe auf W(110) werden vorgestellt.