Münster 1999 – wissenschaftliches Programm

Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe

AM: Magnetismus

AM 8: Magnetowiderstand und Magnetoimpedanz II

AM 8.5: Vortrag

Dienstag, 23. März 1999, 15:45–16:00, F5

Temperaturstabilität und Kennlinien von kombinierten Cu/Py- Vielfachschichtsystemen — •S. Heitmann, A. Hütten, S. Mrozek, T. Hempel, H. Brückl und G. Reiss — Universität Bielefeld, Fakultät für Physik, Universitätsstr. 25, D-33615 Bielefeld

Magnetische Vielfachschichtsysteme aus Kupfer und Permalloy (Ni₈₀Fe₂₀) zeigen antiferromagnetische Kopplung in Abhängigkeit von der Kupferzwischenschichtdicke mit einem scharfen 1. Maximum bei einer Kupferschichtdicke von 0,85nm. Systeme mit 40 Doppellagen dieser Kupferschichtdicke und einer Py-Schichtdicke von 1,9 nm zeigen einen GMR-Effekt von 22% bei einer Sättigungsfeldstärke von etwa 1000Oe. Diese Schichtsysteme sind bis etwa 100^∘C stabil. Schichtsysteme im 2. Maximum bei einer Kupferschichtdicke von etwa 2nm zeigen einen GMR von 10%, eine Empfindlichkeit von 0,3%/Oe und sind temperaturstabil bis 200^∘C:

Wir haben Vielfachschichtsysteme hergestellt, welche die Cu- Zwischenschichtdicken aus 1. und 2. Maximum kombiniert enthalten. Diese Kombinationssysteme zeigen ein deutlich anderes Temperaturverhalten als die unkombinierten Systeme. Ihre Kennlinien sind eine Superposition der Kennlinien der unkombinierten Systeme und können durch Art der Kombination eingestellt werden.