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CP: Chemische Physik

CP 12: Symposium: Benetzung und dünne Filme

CP 12.2: Fachvortrag

Dienstag, 23. März 1999, 16:45–17:15, Phy

Raster-Tunnel- und Kraftmikroskopie zur Untersuchung von Oberflächen mit chemischer Sensitivität — •S. Akari und G. Papastavrou — MPI für Kolloid- und Grenzflächenforschung, Berlin

In der chemischen Kraftmikroskopie werden durch definierte Modifikation der Rasterspitze spezifische Wechselwirkungen zwischen Molekülen auf der Spitze und Präparatoberfläche detektiert. Die gemessenen Kräfte werden allerdings maßgeblich durch das flüssige Medium bestimmt. In dieser Arbeit zeigen wir, daß die Wahl des Lösungsmittels ein entscheidenes Hilfsmittel zur Differenzierung zwischen verschiedenen funktionellen Gruppen darstellt. Tunnelmikroskopische Untersuchungen dieser Oberflächen werden ebenfalls diskutiert. Im zweiten Teil des Vortrages werden Untersuchungen mit dem Tunnelmikroskop vorgestellt zur Behandlung von Halbleiteroberflächen mit positiv geladenen Polyelektrolyten. Die dadurch entstandenen Änderungen der elektronischen Eigenschaften wurden spektroskopisch untersucht. Die mit dem Tunnelmikroskop aufgenommenen I/V-Kennlinien deuten auf eine zusätzliche Verbiegung der Bänder auf der Oberfläche hin.