Münster 1999 – wissenschaftliches Programm

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DF: Dielektrische Festkörper

DF 1: Elektrische und optische Eigenschaften I

DF 1.7: Vortrag

Montag, 22. März 1999, 12:20–12:40, R2

Eine Methode zur Bestimmung der effektiven Störstellendichte in photorefraktiven Kristallen — •S. Wevering¹, V. M. Petrov², M. P. Petrov², and E. Kr"atzig¹ — ¹Fachbereich Physik, Universität Osnabrück, Barbarastraße 7, D-49069 Osnabrück — ²Physical Technical Institute of the Russian Academy of Sciences, St. Petersburg, 194021, Rußland

Raumladungsfelder in photorefraktiven Kristallen werden oft durch die Dichte der wirksamen Störstellen begrenzt. Zur Bestimmung dieser effektiven Störstellendichte stellen wir eine Methode vor, die auf der Selbstbeugung der Schreibstrahlen an dem von ihnen erzeugten Gitter beruht. Wir modulieren die Phase eines Schreibstrahls und messen die Amplituden der ersten und zweiten Harmonischen des abgebeugten Strahls. Aus diesen Daten kann man die effektive Störstellendichte ableiten. Die Methode ist sehr empfindlich, und zur weiteren Verbesserung der Genauigkeit können auch relative Meßwerte herangezogen werden. Wir demonstrieren das an den photorefraktiven Sillenit-Kristallen Bi₁₂SiO₂₀ (BSO), Bi₁₂GeO₂₀ (BGO) und Bi₁₂TiO₂₀ (BTO).