Münster 1999 – wissenschaftliches Programm

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DF: Dielektrische Festkörper

DF 6: Poster

DF 6.21: Poster

Donnerstag, 25. März 1999, 09:30–12:30, Aula

Einfluß der Probenpräparation auf die zwei Längenskalen in der kritischen Streuung von SrTiO₃ — •H. Hünnefeld, R. Köpke, T. Niemöller und J.R. Schneider — HASYLAB am DESY, Hamburg

Die kritische Streuung am strukturellen Phasenübergang von SrTiO₃ wurde mit Hilfe von hochenergetischer Synchrotronstrahlung untersucht. Das Dreiachsen-Diffraktometer am PETRA-Undulator in Hamburg erreicht eine sehr hohe Auflösung im reziproken Raum und ermöglicht dadurch die Beobachtung der zweiten Längenskala in der kritischen Streuung (scharfe Komponente), die sowohl bei strukturellen als auch bei magnetischen Phasenübergängen in vielen Systemen beobachtet werden konnte [1], deren Ursache aber noch ungeklärt ist.

Wir zeigen, daß das Auftreten der scharfen Komponente von der speziellen Probenpräparation abhängt. Ermöglicht man dem Kristall, innere Verspannungen abzubauen, verschwindet die zweite Längenskala, ansonsten tritt die scharfe Komponente in einer oberflächennahen Schicht von 10–100µm auf. Das Temperaturverhalten der breiten Komponente jedoch läßt sich immer mit den gleichen kritischen Exponenten beschreiben, ist also unabhängig von der Probenpräparation. Die Ergebinsse deuten darauf hin, daß langreichweitige Verzerrungsfelder in der Nähe der Oberfläche der Ursprung der zusätzlichen Längenskala sind, jedoch ist weitere theoretische Arbeit notwendig, um auch quantitativ diese Kopplung zu erklären.

[1] R. Cowley, Phys. Scr. T, 66, 24, (1996)