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DS: Dünne Schichten

DS 16: Charakterisierung mittels SXM-Techniken I

DS 16.1: Hauptvortrag

Dienstag, 23. März 1999, 09:30–10:15, PC 7

Optische Mikroskopie jenseits der Beugungsgrenze: Tatsachen, Trends und Träume — •Paul Fumagalli — Institut für Experimentalphysik, Freie Universität Berlin, Arnimallee 14, D-14195 Berlin

Die optische Rasternahfeldmikroskopie (SNOM, scanning near-field optical microscopy) hat in den vergangenen fünf Jahren einen regelrechten Boom erlebt. So kann heute schon fast behauptet werden, daß es in Deutschland keine Universität ohne SNOM-Aktivitäten mehr gibt. Die Fortschritte bezüglich Auflösungsvermögen und Zuverlässigkeit dieser Technik stehen jedoch in einem krassen Gegensatz zu ihrer weiten Verbreitung. Letztere ist sicher eine Folge des relativ einfachen Aufbaus. Daß die Methode hingegen nur langsam Fortschritte macht, ist ein Problem der Verfügbarkeit von optimierten Spitzen und liegt auch an der Tatsache, daß die Wechselwirkung zwischen topographischer und optischer Information meistens unterschätzt wird.

Dieser Vortrag soll zunächst einen Überblick über die Möglichkeiten geben, wie diese neue, nicht durch das Beugungslimit begrenzte Mikroskopiemethode insbesondere zur Untersuchung dünner Schichten Verwendung finden kann. Es soll aber auch kritisch dazu Stellung genommen werden, wo sich ihre gegenwärtigen Grenzen befinden und welche Perspektiven bestehen, um diese zu überwinden. Dies soll exemplarisch anhand der in unserer Gruppe gewonnen Erkenntnisse bei der Messung von lokalen magnetooptischen Effekten mit Hilfe eines polarisationsempfindlichen optischen Rasternahfeldmikroskops gezeigt werden.