DS 17: Charakterisierung mittels SXM-Techniken II
Dienstag, 23. März 1999, 11:15–12:30, PC 7
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11:15 |
DS 17.1 |
Fachvortrag:
Kalibrierstandard zur Charakterisierung von SNOM-Sensoren — •A. Vollkopf, O. Rudow und E. Oesterschulze
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11:30 |
DS 17.2 |
Fachvortrag:
Lokale Photolumineszenzuntersuchungen an InGaAs-Schichten mit einem SNOM — •Ulf Thiele, Jörg Schulze, Stefan Hoppe, Thomas Schrimpf, Peter Bönsch, Georg Eggers, Andreas Schlachetzki und Paul Fumagalli
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11:45 |
DS 17.3 |
Fachvortrag:
Lichttransmission durch einzelne Nanolöcher in dünnen Metallfilmen — •G. Steininger, A. Duch, C. Sönnichsen, G. von Plessen, M. Koch, U. Lemmer und J. Feldmann
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12:00 |
DS 17.4 |
Fachvortrag:
Schottky-Sensoren für die Thermische Rastersondenmikroskopie — •T. Leinhos, M. Müller-Wiegand und E. Oesterschulze
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12:15 |
DS 17.5 |
Fachvortrag:
Raster-Wärme-Mikroskopie (SThM) mit thermischen Sonden auf der Basis von Schottky-Dioden — •M. Müller-Wiegand, T. Leinhos und E. Oesterschulze
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