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DS: Dünne Schichten

DS 18: Charakterisierung mittels SXM-Techniken III

Dienstag, 23. März 1999, 15:00–15:45, PC 7

	15:00	DS 18.1	Hauptvortrag: Der Einfluss der Temperatur auf die mechanischen Eigenschaften von dünnen, organischen Schichten untersucht mit dynamischer Rasterkraftmikroskopie — •S. Hild und O. Marti