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DS: Dünne Schichten

DS 30: Metallische Schichten

DS 30.2: Fachvortrag

Donnerstag, 25. März 1999, 15:45–16:00, PC 7

Phononenzustandsdichten von dünnen Tb-Fe Legierungsfilmen und Fe/Cr(001) Übergittern gemessen mit inelastischer kernresonanter Streuung — •T. Ruckert¹, W. Keune¹, W. Sturhahn², E.E. Alp² und R. Roehlsberger³ — ¹Laboratorium f"ur Angewandte Physik, Gerhard-Mercator-Universität Duisburg, D-47048 Duisburg — ²Advanced Photon Source, Argonne National Lab., Argonne, IL 60439, USA — ³FB Physik, Univ. Rostock, D-18051 Rostock

Die inelastische kernresonante Streuung von Röntgenstrahlung der Kernresonanz des ⁵⁷Fe bei 14.4136 keV kann dazu genutzt werden, direkt die Phononenzustandsdichte (DOS) am Eisen zu messen [1,2]. Der Vorteil dieser Methode ist die Bestimmung der DOS in sehr dünnen Filmen oder an Grenzflächen. Dazu präparierten wir mittels MBE im UHV 175 bis 800 Å Dicke amorphe Tb_1−x⁵⁷Fe_x Legierungen und einen 800 Å dicken, epitaktischen Tb⁵⁷Fe₂-Film (Lavesphase). Die Lavesphase und die amorphe Legierung mit gleicher Zusammensetzung zeigen signifikante Unterschiede in der Phononenzustandsdichte. Um die DOS des Eisens in Vielfachschichten und speziell an einer Grenzfläche zu messen, präparierten wir epitaktische bcc-Fe/Cr(001) Übergitter auf MgO(001). Die Schichtdicke betrug je 8 ML für beide Metalle und wurde 200 mal wiederholt. Wir plazierten 1 Å dicke ⁵⁷Fe-Sondenschichten (95% angereichert) in der Fe-Schichtmitte oder an der Fe-Grenzfläche, um die DOS direkt in der Eisenschicht oder an der Fe/Cr-Grenzfläche zu messen. Verglichen mit der DOS von Fe zeigt die DOS an der Fe/Cr-Grenzfläche deutliche unterschiede.
M. Seto et. al., Phys. Rev. Lett. 74, 3828 (1995)
W. Sturhahn et. al., Phys. Rev. Lett. 74, 3832 (1995)
Gefördert durch die Deutsche Forschungsgemeinschaft (SFB 166).