Münster 1999 – wissenschaftliches Programm

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DS: Dünne Schichten

DS 33: Postersitzung

DS 33.48: Poster

Dienstag, 23. März 1999, 09:30–17:30, Aula

Leitfähigkeits- und Suszeptibilitätsmessungen von Sn-Schichten auf III-V-Halbleitern — •Iris Didschuns¹, Anna-Maria Frisch², Karsten Fleischer², Norbert Esser², Klaus Lüders¹ und Wolfgang Richter² — ¹Inst. für Experimentalphysik, FU Berlin, Arnimallee 14, 14195 Berlin — ²Inst. für Festkörperphysik, TU Berlin, Hardenbergstr. 36, 10623 Berlin

Zinn zeigt schon als Volumenmaterial interessante Eigenschaften, da es in zwei Modifikationen, einer halbleitenden und einer metallischen Phase, die auch Supraleitung zeigt, vorkommt. In diesem Beitrag wird über Leitfähigkeits- und Suszeptibilitätsungen an Sn-Schichten im Zusammenhang mit dem Phasenverhalten berichtet. Es wurden Sn-Schichten verschiedener Dicke (< 200 nm) auf der (110)-Spaltfläche von InSb und InAs im UHV präpariert. Zur Bestimmung der elektronischen und magnetische Eigenschaften wurden AC- und DC-Widerstandsmessungen, sowie Messungen des magnetischen Moments in einem Temperaturbereich von 300 K bis 1,6 K und äusseren Magnetfeldern bis zu 9 T durchgeführt. Es wurde ein klarer Einfluss der Schichtdicke, der Schichtmorphologie und des Substrates festgestellt. So tritt z.B. Supraleitung mit geringerer Übergangstemperatur und einem deutlich erhöhtem kritischen Magnetfeld als im Volumenmaterial, auf.