DS 9: Charakterisierungsverfahren II
Montag, 22. März 1999, 14:00–15:15, H 55
 |
14:00 |
DS 9.1 |
Fachvortrag:
Bandenverschiebungen in der Infrarot Spektroskopie an gemischten Monolagen — •D. Kurth and A. Ulman
|
|
|
|
14:15 |
DS 9.2 |
Fachvortrag:
Optische real-time-, in-situ-Diagnostik bei der Dünnschichtabscheidung — •Wolfgang Fukarek
|
|
|
|
14:30 |
DS 9.3 |
Fachvortrag:
Winkelaufgelöste Streulichtmessung zur Topographiebestimmung von In auf GaAs(001) — •M Bastian, A.M. Frisch, K. Hinrichs, N. Esser und W. Richter
|
|
|
|
14:45 |
DS 9.4 |
Quantitative chemische Mikroanalyse mit einem Spektromikroskop — •Ch. Ziethen, O. Schmidt, R. Frömter, J. Gilles, J. Kirschner, C.M. Schneider und G. Schönhense
|
|
|
|
15:00 |
DS 9.5 |
Fachvortrag:
Form, Verspannung und Ordnung in dreiseitigen Germanium-Pyramiden auf Bor-terminiertem Si(111) — •Z. Kovats, M. Rauscher, J. Domke, T.H. Metzger, J. Peisl, J. Schulze, I. Eisele und R. Paniago
|
|
|