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Münster 1999 – scientific programme

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HL: Halbleiterphysik

HL 12: Poster I

HL 12.99: Poster

Monday, March 22, 1999, 14:00–18:00, Z

Admittanzmessung zur Qualitätskontrolle von Dünnschichtsolarzellen — •D. Berkhahn1, F. Engelhardt1, Th. Meyer1, J. Parisi1 und U. Rau21Fachbereich Physik, Universität Oldenburg, Carl von Ossietzky Straße 9-11, D-26111 Oldenburg — 2Institut für Physikalische Elektronik, Universität Stuttgart, Pfaffenwaldring 47, D-70569 Stuttgart

Es wird gezeigt, daß die Methode der Admittanzmessung zur Qualitätskontrolle von Dünnschichtsolarzellen geeignet ist. Die Admittanz wurde temperaturabhängig von 20 bis 300K an durch RTP-Verfahren hergestelltem Cu(In,Ga)Se2/CdS/ZnO gemessen. Die Untersuchung der Meßergebnisse ergibt, daß alle den Wirkungsgrad bestimmenden Kenngrößen Uoc, Isc und Füllfaktor eindeutig mit den Admittanzmessungen verknüpft werden können. Aus den gemessenen Admittanzspektren läßt sich auf die physikalischen Verlustmechanismen schließen, die die Kenngrößen der Solarzelle beschränken.

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