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M: Metallphysik

M 8: Plastizität I

M 8.3: Vortrag

Montag, 22. März 1999, 15:45–16:00, S 9

Dispersionshärtung im System Kupfer-Gold-Siziliziumdioxid — •U. Lagerpusch und E. Nembach — Institut für Metallforschung, Westfälische Wilhelms-Universität Münster, Wilhelm-Klemm-Str. 10,
D-48149 Münster

An Einkristallen einer durch kugelförmige, inkohärente SiO₂-Partikel dispersionsgehärteten Kupfer-0.65at%Gold-Legierung und an Einkristallen der partikelfreien Kupfer-Gold-Matrix wurden Druckversuche bei Temperaturen zwischen 90K und 500K durchgeführt.
Die SiO₂-Partikel wurden durch Zulegieren von 0.18at% Silizium und eine nachfolgende innere Oxidation der Proben erzeugt. Der Volumenbruchteil und mittlere Radius der Teilchen wurden mittels TEM zu f=0.006±0.001 bzw. r=61±4 nm bestimmt.
Die gemessenen kritischen Schubspannungen der dispersionsgehärteten Kupfer-Gold-Legierung τ_t und der Kupfer-Gold-Matrix τ_M wurden hinsichtlich der Überlagerung von Dispersions- und Mischkristallhärtung analysiert: Es wurde der Exponent k des empirischen Überlagerungsgesetzes τ_t^k=τ_M^k+τ_p^k ermittelt (τ_p: Teilchenbeitrag zur gesamten kritischen Schubspannung).