Münster 1999 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 20: Rastersondentechniken (I)

O 20.6: Vortrag

Dienstag, 23. März 1999, 17:30–17:45, S2

Erhöhung der Bandbreite einer Scherkraft-Abstandsregelung für ein optisches Nahfeldmikroskop — •M. Schüttler, M. Leuschner, M. Lippitz, M. Born, H. Giessen und W.W. Rühle — Fachbereich Physik und Wissenschaftliches Zentrum für Materialwissenschaften, Philipps-Universität Marburg, Renthof 5, 35032 Marburg

Der Abstand zwischen Probe und Sonde eines optischen Nahfeldmikroskopes wird mittels der Scherkraft, die die Probe auf die Sonde ausübt, geregelt. Die Sonde ist dabei an einer piezoelektrischen Stimmgabel befestigt, die eine Detektion von Schwingungsamplitude und -phase einer durch sie angeregten, erzwungenen Schwingung ermöglicht.
Wir erreichen eine Erhöhung der Bandbreite der Regelelektronik mit einer ’Phase-Locked-Loop’-Technik, bei der wir eine Kombination aus Phasen- und Amplitudendetektion verwenden. Modellrechnungen belegen die Möglichkeiten des Aufbaus und zeigen vor allem die Vorteile für einen Einsatz bei tiefen Temperaturen, insbesondere auch eine mögliche Erhöhung der Rastergeschwindigkeit.