O 20: Rastersondentechniken (I)
Dienstag, 23. März 1999, 16:15–18:30, S2
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16:15 |
O 20.1 |
Ortsaufgelöste Phasengeschwindigkeitsmessungen akustischer
Oberflächenwellen beliebiger Polarisation — •G. Behme, T. Hesjedal, E. Chilla und H.-J. Fröhlich
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16:30 |
O 20.2 |
Wärmeübertrag in der UHV-Raster-Thermo-Mikroskopie — •Wolfgang Müller-Hirsch, Jürgen Middeke, Jürgen Parisi, L.V. Govor, A.YU. Oleanov und Achim Kittel
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16:45 |
O 20.3 |
Untersuchung biologischer Proben mit dem kombinierten Rasterionenleitungs- und Scherkaftmikroskop unter Verwendung einer verbesserten Abstandskontrolle — •J. Kamp, B. Anczykowski, H. Fuchs, J. Seebach und H.-J. Galla
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17:00 |
O 20.4 |
Das Depolarisations-NSOM: Nahfeldauflösung mit unbedampften Glasfaserspitzen. — •G. von Freymann, Ch. Adelmann, Th. Schimmel und M. Wegener
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17:15 |
O 20.5 |
Eine dynamische Kraftabstandskontrolle für verschiedene nahfeldoptische Sonden — •A. Naber, H.-J. Maas, K. Razavi, U.C. Fischer und H. Fuchs
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17:30 |
O 20.6 |
Erhöhung der Bandbreite einer Scherkraft-Abstandsregelung für ein optisches Nahfeldmikroskop — •M. Schüttler, M. Leuschner, M. Lippitz, M. Born, H. Giessen und W.W. Rühle
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17:45 |
O 20.7 |
Optische Nahfeldmikroskopie mit mikrofabrizierten Apertursonden im Tapping-Mode — •Thomas Kalkbrenner, Markus Graf, Vahid Sandoghdar und Jürgen Mlynek
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18:00 |
O 20.8 |
Photolumineszenz Raster Nahfeldmikroskopie (SNOM) mit unbedampften Faserspitzen — •D. Pahlke, F. Poser, M. Pristovsek, E. Steimetz und W. Richter
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18:15 |
O 20.9 |
Interne Reflexionsanordnung der Nahfeldmikroskopie mit der Tetraedersonde an metallischen Objekten — •U.C. Fischer, J. Ferber und H. Fuchs
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