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O: Oberflächenphysik

O 21: Oxide und Isolatoren/Phasenüberg
änge

O 21.13: Vortrag

Mittwoch, 24. März 1999, 17:30–17:45, S10

Röntgenstrukturanalyse der Cr₂O₃(0001)-Oberfläche — •Th. Gloege, H.L. Meyerheim, W. Moritz und D. Wolf — Inst. f. Kristallographie u. Angew. Mineralogie der LMU München Theresienstr. 41, 80333 München

Mittels Röntgenbeugung wurde die unrekonstruierte (0001)-Oberfläche von Cr₂O₃ untersucht. Ziel war die Bestimmung der obersten Schichtrelaxationen [1,2] sowie der Terminierung der Oberfläche. Bei Adsorption von K, Cs und CO bei CO- Partialdrücken bis 1x10⁻⁶ mbar wurde keine Überstruktur beobachtet. Zur Analyse der reinen Cr₂O₃-Fläche wurde ein Datensatz bestehend aus 11 unabhängigen Grundgitterstäben gemessen. Die Analyse zeigt eine wahrscheinlichste Terminierung der Cr₂O₃-Fläche mit einer Cr-Einfachlage und starke Relaxationen der Schichtabstände bis zur fünften Schicht: (d₁₂=(-18%), d₂₃=-21%, d₃₄=-26%, d₄₅=+10%). Diese Ergebnisse sind in Übereinstimmung mit der LEED-Analyse von Rohr et.al.[1], mit Ausnahme des Schichtabstandes d₁₂=−38%. Unsere Ergebnisse weisen darauf hin, daß neben den Relaxationen auch eine Fehlordnung mit einer teilweisen Besetzung einer zweiten Cr-Position in der obersten Schicht vorliegt. Für den obersten Schichtabstand ergeben sich infolge dessen abweichende Werte. Abstandsrelaxationen konnten ebenfalls nur bis zur fünften Schicht nachgewiesen werden.

[1] F. Rohr, M. Bäumer, H.-J. Freund, J.A. Staemmler, S. Müller, L. Hammer, K. Heinz, Surface Science 372, L291 (1997)

[2] C. Rehbein, N.M. Harrison, A. Wander, Phys.Rev.B54, 14066(1996)