Münster 1999 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 35: Rastersondentechniken (II)

O 35.5: Vortrag

Donnerstag, 25. März 1999, 17:15–17:30, PC4

Rekonstruktion des Spitzen/Proben-Potentials aus der Frequenzverschiebung im dynamischen Modus des Rasterkraftmikroskops — •H. Hölscher, W. Allers, U. D. Schwarz, A. Schwarz, and R. Wiesendanger — Institut für Angewandte Physik, Universität Hamburg, Jungiusstrasse 11, 20355 Hamburg

Mit der Entwicklung des Rasterkraftmikroskops wurde es möglich, Kräfte, die zwischen der Mikroskopspitze und der Probe wirken, auf der Nanometerskala zu messen. In der Regel sind solche Messungen aber dadurch limitiert, daß die Spitze bei einer Annäherung an die Probe auf die Probenoberfläche springt. Dieser sogenannte jump to contact wird durch die Instabilität im effektiven Spitzen/Proben-Potential hervorgerufen.

Dieses Verhalten kann im dynamischen Modus des Rasterkraftmikroskops verhindert werden. Wir stellen eine Methode vor, mit der es möglich ist, das Spitzen/Proben-Potential leicht anhand der in diesem Modus gemessenen Frequenzverschiebung zu rekonstruieren. Dabei wird die Frequenzverschiebung in Abhängigkeit von der Resonanzamplitude für einen festen Cantilever/Proben-Abstand gemessen und aus diesen Kurven das Wechselwirkungspotential und die Kraft zwischen Spitze und Probe berechnet. Anhand von Simulationen und Experimenten demonstrieren wir die Möglichkeiten dieser neuen Methode.