O 35: Rastersondentechniken (II)
Thursday, March 25, 1999, 16:15–18:30, PC4
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16:15 |
O 35.1 |
Spitzen–induzierte Diffusion auf Metalloberflächen — •Ulrike Kürpick, Talat S. Rahman und Burkhard Fricke
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16:30 |
O 35.2 |
Ferroelektrische Datenspeicherung mit Elektrostatischer Kraftmikroskopie — •S. Molitor, J. Fompeyrine, J. W. Seo, P. Güthner und J.-P. Locquet
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16:45 |
O 35.3 |
STM-Beobachtung von stehenden Elektronenwellen an Stufen der GaAs(110)-Oberfläche bei Raumtemperatur — •O. Flebbe, H. Eisele, T. Kalka und M. Dähne-Prietsch
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17:00 |
O 35.4 |
Kelvinsonden-Mikroskopie mit einem Ultrahochvakuum Rasterkraftmikroskop — •Ch. Sommerhalter, Th. Glatzel, Th. W. Matthes, A. Jäger-Waldau und M. Ch. Lux-Steiner
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17:15 |
O 35.5 |
Rekonstruktion des Spitzen/Proben-Potentials aus der Frequenzverschiebung im dynamischen Modus des Rasterkraftmikroskops — •H. Hölscher, W. Allers, U. D. Schwarz, A. Schwarz, and R. Wiesendanger
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17:30 |
O 35.6 |
Nanoscratching zur Härteuntersuchung ultradünner Hartstoffschichten — •Andreas Wienss, Michael Vogelgesang, Gabriele Persch-Schuy und Uwe Hartmann
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17:45 |
O 35.7 |
Thermisches Rauschen von AFM Cantilevern in Abhängigkeit vom Material und Abstand zur Probe — •G. Wenning, C. Seidel und H. Fuchs
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18:00 |
O 35.8 |
Physikalische Interpretation von im Frequenzmodulationsmodus gewonnenen Kraftmikroskopiebildern — •F. J. Giessibl, H. Bielefeldt, S. Hembacher, U. Mair und J. Mannhart
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18:15 |
O 35.9 |
’Dissipation Mapping’ mit dem AFM im dynamischen Betrieb — •B. Anczykowski, B. Gotsmann, H. Fuchs, J.P. Cleveland und V.B. Elings
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