Münster 1999 – scientific programme

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O: Oberflächenphysik

O 36: Poster (II)

O 36.11: Poster

Thursday, March 25, 1999, 20:00–22:30, Zelt

Untersuchung des Wachstums dünner epitaktischer C₆₀-Filme auf VSe₂ mit Hilfe von STM und Röntgenstreuung — •Alexander Meeder, Sebastian Woedtke, Rolf Schwedhelm, Jens-Peter Schlomka, Rainer Adelung, Metin Tolan, Werner Press, Lutz Kipp und Michael Skibowski — Institut für Experimentelle und Angewandte Physik, Leibnizstraße 19, 24118 Kiel

Aufgrund der besonders geeigneten Eigenschaften des Schichtkristalls VSe₂ wurde das Wachstum von C₆₀-Filmen auf diesem Substrat mit Hilfe der Rastertunnelmikroskopie (STM) sowie mit Röntgenstreuung untersucht. Die Ergebnisse der STM-Messungen werden im Rahmen des Diffusion-Limited-Aggregation-Modells diskutiert, wobei insbesondere der Übergang von fraktal-artigem zu uniformen Inselwachstum betrachtet wird. In Übereinstimung mit den STM-Ergebnissen wurde die mittlere vertikale Struktur eines dicken Filmes durch Bragg-Streuung und Röntgen-Reflektivitäts-Messungen bestimmt. Das epitaktische Wachstum in (111)-Koordination wird dadurch bestätigt, und die Dicke der homogen gewachsenen C₆₀-Lagen kann bestimmt werden. Außerdem werden die Rauhigkeit sowie die mittlere Dispersion des Films aus den Daten abgeleitet.