Münster 1999 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 36: Poster (II)

O 36.24: Poster

Donnerstag, 25. März 1999, 20:00–22:30, Zelt

Rasterkraftmikroskopie an Lithiumfluorid-Einkristallen nach Bestrahlung mit energiereichen Schwerionen — •Andreas Müller, Christian Müller und Reinhard Neumann — Gesellschaft für Schwerionenforschung, Planckstr. 1, D-64291 Darmstadt

An den GSI-Beschleunigern UNILAC und HLI mit Ionen unterschiedlicher Energie (einige MeV/u) bestrahlte LiF-Einkristalle wurden mit Rasterkraftmikroskopie untersucht. Die Ionen erzeugen an der (100)-Oberfläche bei senkrechter Bestrahlung Hügel von wenigen nm Höhe und einigen zehn nm Durchmesser. Der schon vorhandene Datensatz mittlerer Durchmesser als Funktion des Energieverlusts konnte um mehrere weitere Messpunkte ergänzt werden [1,2]. Die bei streifendem Einfall des Ionenstrahls längs einer Spaltfläche entstehenden Ionenspuren zeigen eine Perlenketten-artige Abfolge von Hügeln, während beim Ätzen einer nach der Bestrahlung parallel zu den Ionenspuren erzeugten Spaltfläche inverse Pyramiden entstehen [1].

[1] A. Müller, R. Neumann, K. Schwartz, T. Steckenreiter, C. Trautmann, Appl. Phys. A66 (1998), S1147

[2] A. Müller, R. Neumann, K. Schwartz, C. Trautmann, Nucl. Instr. and Meth. B, im Druck