Münster 1999 – scientific programme

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O: Oberflächenphysik

O 36: Poster (II)

O 36.43: Poster

Thursday, March 25, 1999, 20:00–22:30, Zelt

Zum Verständnis der Signale im elektrischen Rasterkraftmikroskop — •A.-D. Müller, F. Müller und M. Hietschold — Institut für Physik, TU Chemnitz, 09107 Chemnitz

Mit der elektrischen Rasterkraftmikroskopie im dynamischen Nonkontakt-Modus können gleichzeitig mit der Topographie mehrere Signale gewonnen werden, die mit dem Oberflächenpotential und der lokalen Spitze-Probe-Kapazität verknüpft sind. Es wird untersucht, wie sich diese Signale auf definierten metallischen Oberflächen in Abhängigkeit vom Set-Point (Spitze-Probe- Abstand) und von der für die Messung verwendeten Spannungsamplitude ändern. Als Beispiel werden Ergebnisse von verschieden hergestellten Au-Schichten diskutiert.