Münster 1999 – wissenschaftliches Programm
Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe
O: Oberflächenphysik
O 36: Poster (II)
O 36.45: Poster
Donnerstag, 25. März 1999, 20:00–22:30, Zelt
Neues UHV-Tieftemperatur-STM mit Magnetsystem — •O. Pietzsch, M. Bode, A. Kubetzka und R. Wiesendanger — Institut für Angewandte Physik, Uni Hamburg
Ein neues Rastertunnelmikroskop für den Einsatz im UHV, bei
Temperaturen < 30 K
und in einem Magnetfeld von 2.5 Tesla wird vorgestellt. Das Mikroskop wird in
einem LHe-Badkryostaten betrieben. Es ist an ein bestehendes
Kammersystem mit Präparations- und Analyse-Stationen angeschlossen.
Der Probenort ist visuell und vom Manipulator sehr gut erreichbar. Probe
und Spitze können
in-situ gewechselt werden, ohne daß
das Mikroskop aus dem Tieftemperaturbereich entfernt werden muß.
Ein neu entwickelter in-situ Spitzenwechsel-Mechanismus erlaubt den
Austausch von nichtmagnetischen
gegen magnetische Spitzen. Dadurch lassen sich insbesondere
magnetische Probeneigenschaften mittels spinpolarisierter
Rastertunnelspektroskopie [1] bestimmen.
Erstmals wurde ein Piezo-Schrittmotor für eine Rotationsbewegung um eine
Achse
in der x-y-Ebene verwirklicht; die Probe kann um mehr als 270∘ gedreht
werden. Sie kann so in fast beliebigem Winkel magnetisiert werden. Auch
kann das Substrat
senkrecht zur Oberfläche bedampft werden. Aufgrund der hohen inhärenten
Stabilität des Mikroskops gelingt es, nach einer Rotation den
mikroskopischen Ort auf der Probe mit einer Genauigkeit von < 500
× 500 nm2
wiederzufinden. Hierzu werden erste Ergebnisse präsentiert.
M. Bode, M. Getzlaff, R. Wiesendanger, Phys. Rev. Lett. 81, 4256