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O: Oberflächenphysik

O 36: Poster (II)

O 36.46: Poster

Donnerstag, 25. März 1999, 20:00–22:30, Zelt

SNOM: Neue Ergebnisse und Entwicklungen — •Martin Detje, Ingolf Hoersch, Ingrid Oebbecke und Thomas Berghaus — OMICRON Vakuumphysik, D-65232 Taunusstein

Wir stellen die neusten SNOM- Ergebnisse in Reflexion, Transmission und Fluoreszenz vor. Es werden Beispiele aus den Materialwissenschaften, Elektronischen Bauteiluntersuchungen und Messungen von Testproben erklärt. Wir können höchste Auflösung und eine klare Trennung von optischer und topographischer Information zeigen.

Dann konzentriert sich die Präsentation auf einige technische Aspekte der Rasternahfeldmikroskopie. Das Gesamtkonzept des sehr vielseitigen Instruments mit einem linearisierten, kalibrierten Grossbereichsscanner, einfach auswechselbaren SNOM-Spitzen und ferngesteuerter Grobpositionierung wird anschaulich gemacht. Im besonderen werden wir auf die nicht-optische Scherkraftregelung eingehen. Das vorgestellte Gerät ist eingebettet in ein universelles Mikroskopkonzept, das alle Möglichkeiten der herkömmlichen optischen Mikroskopie zusätzlich erlaubt.