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O: Oberflächenphysik

O 36: Poster (II)

O 36.47: Poster

Donnerstag, 25. März 1999, 20:00–22:30, Zelt

Analyse der Frequenzverschiebung in der dynamischen Rasterkraftmikroskopie — •H. Hölscher, A. Schwarz, U. D. Schwarz, W. Allers, and R. Wiesendanger — Institut für Angewandte Physik, Universität Hamburg, Jungiusstrasse 11, 20355 Hamburg

Durch verschiedene Experimente wurde vor kurzem gezeigt, dass es möglich ist, im dynamischen Betriebsmodus des Rasterkraftmikroskops echte atomare Auflösung auf verschiedenen Oberflächen zu erhalten, die mit der eines Rastertunnelmikroskops vergleichbar ist. So konnten z. B. einzelne Fehlstellen oder die atomare Struktur an Stufenkanten abgebildet werden. Trotz der experimentellen Erfolge dieser Nichtkontakt-Rasterkraftmikroskopie genannten Methode wird der exakte Mechanismus des Kontrastes in diesem Modus des Rasterkraftmikroskops noch immer diskutiert.

Um diesen Mechanismus näher zu untersuchen, haben wir die im dynamischen Modus gemessene Frequenzverschiebung Δ f in Abhängigkeit vom Cantilever/Proben-Abstand auf der Graphit (0001)-Oberfläche für verschiedene Resonanzamplituden gemessen. Anhand von Modellpotentialen wurden diese Messungen auch simuliert. Die so erhaltenen experimentellen und simulierten Frequenz-Distanz-Kurven stimmen gut überein und lassen Schlußfolgerungen auf den Abbildungsmechanismus zu.