Münster 1999 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 36: Poster (II)

O 36.49: Poster

Donnerstag, 25. März 1999, 20:00–22:30, Zelt

Feldionenmikroskopische Untersuchung von Oberflächenmodifikationen auf STM-Sondenspitzen — •Alexander Fian und Manfred Leisch — Institut für Festkörperphysik, TU Graz, Petersgasse 16, A-8010 Graz

Das Feldionenmikroskop (FIM) mit Atomsonde (FIM mit Flugzeit-

Massenspektrometer) erlaubt die Oberfläche einer feinen

Metallspitze atomar aufgelöst abzubilden und den oberflächen-

nahen Bereich massenspektrometrisch zu analysieren und kann daher

herangezogen werden Modifikationen an der Oberfläche an

STM-Spitzen nach Substratkontakt zu untersuchen. Nach Herstellung

einer definierten Probenspitze und Charakterisierung im FIM sind

die Spitzen in das angeflanschte UHV STM transferiert worden.

Nach kontrollierter Annäherung ist vorerst die die

Substratoberfläche durch eine Rasteraufnahme charakterisiert

worden und anschliessend Kontaktexperimente bzw.

Indentexperimente mit unterschiedlichen Eindringtiefen

durchgeführt worden. Unmittelbar nach dem Kontaktexperiment

sind die Probenspitzen wieder im FIM analysiert worden. Durch die

ortsaufgelöster Erfasssung der felddesorbierten Spezies von der

Oberfläche kann die lokale Anordnung von Adatomclustern aus den

Messdaten rekonstruiert werden. In ersten Kontaktexperimenten mit

W-Spitzen auf Au ist die Ausbildung kraterförmiger Bruchränder

nach Abziehen der Spitze beobachtet worden.

( Arbeit gefördert vom Fonds zur Förderung der wissenschaftlichen Forschung, Projekt P12099 )