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O: Oberflächenphysik
O 36: Poster (II)
O 36.51: Poster
Thursday, March 25, 1999, 20:00–22:30, Zelt
Scherkraft-Mikroskopie für Leitfähigkeitsuntersuchungen — •A. Ecke, H. Brückl und G. Reiss — Universität Bielefeld
Ein Raster-Scherkraftmikroskop mit metallischer Spitze wurde für die gleichzeitige Messung von Topologie und elektrischer Leitfähigkeit verschiedener Proben verwendet. Es wurden Untersuchungen an dünnen Schichten aus Gold und Permalloy, an mikrostrukturierten Systemen und Al2O3 - Barrieren in ferromagnetischen Tunnelelementen durchgeführt.
Die Vorteile gegenüber anderen Methoden (z.B.:dc-contact AFM), aber auch die Probleme dieser Methode, werden diskutiert.