Münster 1999 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 41: Methodisches (Experiment und Theorie) (II)

O 41.7: Vortrag

Freitag, 26. März 1999, 12:45–13:00, S2

Erprobung eines abbildenden Gegenfeldanalysators für die Photoemissionsspektromikroskopie — •G. Schönhense, A. Oelsner, O. Schmidt und Ch. Ziethen — Institut für Physik der Universität Mainz, 55099 Mainz

Eines der effektivsten Verfahren zur Spektromikroskopie (siehe z. B. [1]) beruht auf der parallelen Bilderfassung mittels eines Kathodenlinsen-Mikroskops mit einem zusätzlichen abbildenden Energiefilter im Strahlengang. Dispersive Filter (z. B. vom Halbkugel-Typ) sind mit Erfolg eingesetzt worden [2], die Handhabung dieser komplizierten Spektromikroskope schließt jedoch eine breite Anwendung zur Zeit (noch) aus. In diesem Beitrag stellen wir ein deutlich einfacheres Verfahren vor, welches statt des dispersiven Filters einen Gegenfeldanalysator (Hochpass-Filter) einsetzt. Der gewünschte Bandpass wird durch Differenzbildtechnik erreicht. Der Gegenfeldanalysator wurde in Verbindung mit einem Photoemissions-Mikroskop (FOCUS IS-PEEM) an einer Synchrotronstrahlungsquelle erprobt (BESSY, PM 3). Im Modus der XPS- oder Auger-Mikrospektroskopie wurden Elektronen-Energieverteilungskurven aufgenommen, wobei die Quellfläche im Bereich von 0,7 mm bis herab zu ca. 1 µm mittels einer Irisblende definiert werden konnte. (Δ E≈ 0,7 eV). Im Abbildungsmodus ließ sich der Austrittsarbeitskontrast energieselektiv verstärken. Von besonderer Bedeutung für Synchrotronanwendungen ist die Möglichkeit der Auflösungssteigerung durch Reduzierung der durch die Energiebreite verursachten chromatischen Aberration. Gefördert durch BMBF: 05 644 UMA 7.

[1] H. Ade (Hrsg.), Spectromicroscopy, J. Electron. Spectrosc. Relat. Phenom. 84 (1997)

[2] z. B. E. Bauer et al. sowie B. Tonner et al. in [1]