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Münster 1999 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 41: Methodisches (Experiment und Theorie) (II)

Freitag, 26. März 1999, 11:15–13:45, S2

11:15 O 41.1 Interatomare resonante Photoemission: eine neue Methode zur Identifizierung von Nachbaratomen — •Reinhard Denecke, Alex Kay, Elke Arenholz, Simon Mun, Javier Garcia de Abajo, Charles Fadley, Zahid Hussain und Michel Van Hove
11:30 O 41.2 Erste Messungen mit einem elliptischen 2D-Spektrometer* — •T. Dütemeyer, K. Dörnemann, M. Gari, M. Kitz, L.S.O. Johansson, C. Quitmann und B. Reihl
11:45 O 41.3 Phasensensitive Bestimmung des Segregationsprofils in dünnen Legierungsschichten — •W. Donner, B. Nickel, B. Toperverg und H. Dosch
12:00 O 41.4 Sub-Å-Holographie mittels dichroitischer Photoemission — •A. Oelsner, G.H. Fecher, M. Schicketanz und G. Schönhense
12:15 O 41.5 Vergleich von direkter und reziproker atomarauflösender Röntgenfluoreszenzholographie — •T. C. Hiort, D. V. Novikov, E. Kossel, B. Adams, Y. Nishino und G. Materlik
12:30 O 41.6 In situ Zelle für praxisnahe Untersuchungen von Materialien mittels Electron-Yield XAS (EXAFS, XANES, NEXAFS) — •Sven L.M. Schroeder, Thorsten Schneider, Rudolf Cames, Klaus Christmann und Trevor Rayment
12:45 O 41.7 Erprobung eines abbildenden Gegenfeldanalysators für die Photoemissionsspektromikroskopie — •G. Schönhense, A. Oelsner, O. Schmidt und Ch. Ziethen
13:00 O 41.8 Fermi-Kanten als Probenthermometer — •Jörg Kröger, Thomas Greber, Thomas Kreutz und Jürg Osterwalder
13:15 O 41.9 Streuung schneller Stickstoffionen an einer Pt(110)(1×2)-Oberfläche — •Abel Robin, Norbert Hatke, Michael Dirska, Martin Grether, Sven Jamecsny, Dieter Plachke, Andreas Närmann und Werner Heiland
13:30 O 41.10 Computerunterstützte Entwicklung von Energieanalysatoren für geladene Teilchen — •S. Mähl
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