Münster 1999 – wissenschaftliches Programm

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TT: Tiefe Temperaturen

TT 24: Vortexdynamik und Pinning

TT 24.6: Vortrag

Freitag, 26. März 1999, 11:30–11:45, F2

Abbildung von Stromverteilungen in polykristallinem, supraleitendem Bi₂Sr₂CaCu₂O_x mit magnetischer Rasterkraftmikroskopie — •F. Král¹, L.J. Gauckler², D. Perednis², B. Huey³, D. Bonnell³ und G. Kostorz¹ — ¹Institut für Angewandte Physik, ETH Zürich, CH-8093 Zürich — ²Nichtmetallische Werkstoffe, ETH Zürich, CH-8092 Zürich — ³Dept. of Materials Science, University of Pennsylvania, Philadelphia PA 19104, USA

Ein kommerzielles Gerät für magnetische Rasterkraftmikroskopie wurde für Messungen bei 30 bis 70 K modifiziert. Damit gelang es, die Stromverteilung in einem texturierten mehrphasigen Bi-2212-Dickfilm und in einphasigem c-orientierten Bi-2212 unterhalb von T_c in-situ mit einer Auflösung von ca. 100 nm abzubilden. Die Abbildungsbedingungen werden diskutiert und mit Modellrechnungen verglichen. Die Resultate für Bi-2212 zeigen, daß die Supraströme auf einen 10 nm schmalen Bereich nahe den parallel zur c-Achse verlaufenden Korngrenzen konzentriert sind.