Münster 1999 – scientific programme
Parts | Days | Selection | Search | Downloads | Help
TT: Tiefe Temperaturen
TT 8: Josephson-Kontakte
TT 8.3: Talk
Tuesday, March 23, 1999, 11:00–11:15, F2
Hochfrequenzcharakterisierung von Nb/p-Typ InAs (2DEG)/Nb Josephsonkontakten — •K. Biedermann, A. Chrestin, T. Matsuyama und U. Merkt — Institut für Angewandte Physik und Zentrum für Mikrostrukturforschung, Universität Hamburg, Jungiusstraße 11, D-20355 Hamburg
Wir untersuchen die Hochfrequenzeigenschaften von Nb/p-Typ InAs/Nb-Kontakten mit sehr kurzen Kanallängen ≥ 10nm. Die hohen IcRn−Produkte von ≈ 1mV lassen auf eine hohe abgestrahlte Mikrowellenleistung schliessen. Durch die spezielle Herstellung mittels anodischer Oxidation entsteht ein integrierter Resonator, gebildet aus den beiden überlappenden Niobelektroden mit dem anodischen Oxid dazwischen. Beide Aspekte machen unsere Kontakte speziell für Hochfrequenzuntersuchungen interessant. Bei von außen eingestrahlter Hochfrequenz bilden sich in den Strom-Spannungskennlinien sogenannte Shapiro-Stufen aus, deren Stufenbreite in Abhängigkeit der eingestrahlten Leistung untersucht wird. Die Emission der Josephsonstrahlung des Kontaktes in den Resonator untersuchen wir anhand der Fiskeresonanzen in den Strom-Spannungskennlinien. Ihre Magnetfeldabhängigkeit kann in einem einfachen Modell beschrieben werden. Zusätzlich zu ganzzahligen Fiskeresonanzen mit Vn=(ℏ/2e)ωn beobachten wir eine Resonanz bei Vn/2 mit der doppelten Periodizität verglichen mit dem zugehörigen Fraunhofermuster. Momentan erforschen wir die gegenseitige Hochfrequenzbeeinflußung zweier Kontakte, die auf einem Substrat üeber einen Streifenleiter gekoppelt sind. Hierbei dient der eine Kontakt als Sender, dessen Josephsonstrahlung durch den Streifenleiter in den integrierten Resonator des Empfängerkontaktes eingekoppelt werden soll.