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TT: Tiefe Temperaturen

TT 8: Josephson-Kontakte

TT 8.5: Vortrag

Dienstag, 23. März 1999, 11:30–11:45, F2

Serienarrays aus YBa₂Cu₃O₇-Josephson-Kontakten — •H. Burkhardt¹, A. Rauther¹, M. Schilling¹, R. Weingärtner², R. Kleiner² und P. Müller² — ¹Universität Hamburg, Institut für Angewandte Physik und Zentrum für Mikrostrukturforschung, Jungiusstraße 11, 20355 Hamburg — ²Physikalisches Institut III der Universität Erlangen, Erwin-Rommel-Str. 1, 91058 Erlangen

Die chip-to-chip und die on-chip Streuung des kritischen Stroms von HTS-Josephson-Kontakten ist für vielerlei Anwendungen von höchster Bedeutung. Wir haben Josephson-Kontakt-Arrays mit bis zu 10000 Josephson-Kontakten in Serie hergestellt und untersucht. Der Präparationsprozeß besteht aus Laserdeposition, konventioneller Photolithographie und Argon-Plasmaätzen in einem Parallelplattenreaktor. Serienarrays aus Rampenkontakten und aus Bikristall-Kontakten werden miteinander verglichen. Zur Bestimmung der Streuung der I_c-Werte werden Messungen des differentiellen Widerstandes und Emissionsmessungen herangezogen. Wir untersuchen mit dieser Methode die Streuung der Barriereneigenschaften von Josephson-Kontakten in Rampengeometrie.