Münster 1999 – scientific programme

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TT: Tiefe Temperaturen

TT 9: Postersitzung I: TT-Teilchendetektoren (1-7), TT-Techniken (8-11), 2-D-Systeme (12-21), Meso- u. nanoskopische Strukturen (22-44), Niederdim. Spinsysteme (45-60), Tunneln u. Symmetrien (61-65), SQUID-Anwendungen (66-73), Massive HTSL, Bandleiter (74-96)

TT 9.35: Poster

Tuesday, March 23, 1999, 09:30–12:30, Z

Messung und Analyse von Leitwertfluktuationen in Nanometerdrähten — •P. vom Stein¹, R. Schäfer¹, C. Wallisser¹ und H. Hein² — ¹Forschungszentrum Karlsruhe, INFP, Postfach 3640, 76021 Karlsruhe — ²Forschungszentrum Karlsruhe, IMT, Postfach 3640, 76021 Karlsruhe

Wir berichten über Messungen von Leitwertfluktuationen an Nanodrähten aus Edelmetallen bei T∼ 30 mK. Auf die mittels Elektronenstrahllitographie hergestellten Nanometermasken werden die Metalle bei tiefen Temperaturen (T∼ 10 K) abschreckend kondensiert. Die empfindlichen Bereiche der Probe werden mit einer Passivierungsschicht aus GeO₂ bedeckt. Die so erzeugten Nanometerdrähte zeigen eine kleine mittlere freie Weglänge ℓ ∼ 4 nm .

Fluktuationsspektren wurden sowohl aus Messungen des Magnetoleitwerts als auch durch Aufnahme von Strom-Spannungs-Kennlinien gewonnen. Wesentlich für die Analyse der Meßdaten ist eine verläßliche Bestimmung der die Spektren charakterisierenden Größen rms-Amplitude und kritisches Feld. Daher wurden Simulationsrechnungen durchgeführt, die den Einfluß experimentell bedingter Faktoren (Rauschen, Filterung, Diskretisierung, Fitprozedur) auf diese Kenngrößen aufzeigen und quantitative Aussagen über deren Fehler liefern.