Bonn 2000 – wissenschaftliches Programm
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A: Atomphysik
A 15: Poster I
A 15.11: Poster
Mittwoch, 5. April 2000, 10:30–13:00, Aula
Ionisation von C2+ im 2 keV Elektronenstoß — •H. Kollmus1,2, S. Hagmann3,2, R. Moshammer1, R. Mann2, H. Bräuning4, W. Schmitt1, M. Schulz5 und J. Ullrich1 — 1Albert-Ludwigs-Universität, Hermann-Herder-Str. 3, D-79104 Freiburg — 2GSI, Planckstraße 1, D-64291 Darmstadt — 3Kansas State University, Manhatten, Kansas 66506, USA — 4Strahlenzentrum der Universität Giessen, D-35392 Giessen — 5University of Missouri, Rolla, MO 65401, USA
Die Vermessung differentieller Querschnitte zur Ionisation von Ionen in Stößen mit hochenergetischen Elektronen ist extrem schwierig und auf direktem Wege bisher technisch nicht realisierbar. Andererseits ist seit langem bekannt, daß die Ionisation von nicht vollständig ionisierten Projektilen in schnellen Ion-Atom Stößen im wesentlichen auf einer Wechselwirkung der Elektronen des Projektils mit denen des Targetatoms beruht [1]. Somit lässt sich die Ionisation der Projektile in schnellen Ion-Atom Stößen als Elektronenstoß-Ionisation interpretieren und eröffnet damit einen Zugang zum detaillierten Studium von (e,2e) Prozessen an Ionen. In einem kinematisch vollständigen Experiment zur Ionisation von C2+ - Projektilen in Stößen mit He-Atomen bei einer Einschußenergie von 3.6 A MeV (dies entspricht einer äquivalenten Elektronenenergie von 2 keV) ist es nun erstmals gelungen differentielle Querschnitte für (e,2e) an C2+ - Ionen zu extrahieren. Die so gewonnenen Daten und die sich dadurch eröffnenden Möglichkeiten werden diskutiert.
[1] R. Dörner et al. Phys. Rev. Lett., V72 (1994) 3166