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MS: Massenspektrometrie
MS 3: Beschleunigermassenspektrometrie
MS 3.7: Talk
Tuesday, April 4, 2000, 15:30–15:45, HS VII
Messung von 26Al bei tiefen Energien — •Jürgen A. Scheer1, Stefan Jakob1, Martin Suter1 und Hans-Arno Synal2 — 1Institut für Teilchenphysik, ETH Hönggerberg, 8093 Zürich, Schweiz — 2Paul Scherrer Institut, c/o ETH Hönggerberg, 8093 Zürich, Schweiz
An der ETH Zürich ist eine neue AMS Anlage aufgebaut worden, die mit wesentlich tieferen Terminalspannungen als bisher üblich arbeitet und dementsprechend auch wesentlich kleiner ist. Diese Anlage ist primär für 14C-Messungen ausgelegt, und nun wird untersucht, inwiefern sie sich zur Analyse von 26Al eignet. Erste Messungen bei einer Terminalspannung von 460 kV ergaben, dass Ausbeuten von etwa 30 % erreicht werden, was vergleichbar ist mit den Ausbeuten an Anlagen, die mit viel höherer Terminalspannung betrieben werden. Weiterhin zeigte sich, dass der molekulare Untergrund weitgehend eliminiert werden kann. Das Potential dieser neuen Anlage im Vergleich zu bereits bestehenden wird diskutiert.