Bonn 2000 – wissenschaftliches Programm

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MS: Massenspektrometrie

MS 4: AMS, Laserresonanzionisation

MS 4.6: Vortrag

Dienstag, 4. April 2000, 17:45–18:00, HS VII

Entwicklung und Anwendung von MS-Verfahren mit selektiver Ionisation zur direkten Analyse komplexer Proben — •Ralf Zimmermann^1,2, Hans Jörg Heger^1,2, Ralph Dorfner^1,2, Martin Blumenstock^1,2, Thorsten Hauler^1,2, Ulrich Bösl², Fabian Mühlberger^1,2, Klaus Hafner^1,2, Thomas Ferge^1,3 und Antonius Kettrup^1,2 — ¹GSF Forschungszentrum für Umwelt und Gesundheit, Ingolstädter Landstraße 1, 85764 Neuherberg — ²TU München — ³Universität Tübingen

Eine direkte Analyse organischer Spurenbestandteile komplexer Substanzgemischen ist mit konventioneller Massenspektrometrie nicht möglich. In der Analytik werden daher Trennmethoden mit MS kombiniert (z.B. GC-MS, wobei man Möglichkeit zur online- Echtzeitanalyse verliert. Eine online-Echtzeitanalyse, ist z.B. für die Prozessanalytik wichtig. Eine Alternative stellt die Anwendung selektiver und weicher Ionisationsmethoden dar, die nur eine Teilmenge der vorhandenen Spurenverbindungen erfassen und Massenbestandteile (z.B. N2, O2) unterdrücken. Im Beitrag werden Laser-MS Ergebnisse [1,2] (Ionisation mit resonanzverstärkter Zweiphotonenionisation, REMPI oder/ und VUV-Einphotonenionisation) sowie chemische Ionisations-MS Ergebnisse (Protonen-Transfer-MS) vorgestellt und vergleichend behandelt. Die Bedeutung statistischer Verfahren zur Musteranalyse erhaltener MS-Daten wird diskutiert.

(1)Heger, H.J.; Zimmermann, R.; Dorfner, R.; Beckmann, M.; Griebel, H.; Kettrup, A.; Bösl, U. Anal.Chem. 1999, 71, 46.

(2)Zimmermann, R.; Heger, H.J.; Kettrup, A. Fresenius J.Anal.Chem. 1999, 363, 720.