Bonn 2000 – wissenschaftliches Programm

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P: Plasmaphysik

P 16: Plasmadiagnostik (Poster)

P 16.37: Poster

Mittwoch, 5. April 2000, 10:30–13:00, Aula

Korrelierte Emissions- und Absorptionsspektroskopie — •Ingo Altmann, Kurt Hirsch, Bernhard Roth, Detlef Schinköth und Uwe Schumacher — Institut für Plasmaforschung, Pfaffenwaldring 31, 70569 Stuttgart

Die Messung der Grundzustandsdichte von Randschichtplasmen wurde am Beispiel der atomaren Si–Resonanzlinien entwickelt und erprobt. Hierbei wurde das Erosionsverhalten von C/C–SiC–Hitzeschutzmaterialien für Wiedereintritts–Raumfahrzeuge in einem luftähnlichen Plasmafreistrahl untersucht. Als unterstützende Diagnostiken zur Bestimmung der Plasmaparameter in der Wechselwirkungszone finden Atom- und Molekülspektroskopie, Thomsonstreuung und monochromatische zweidimensionale Strömungsbilder Anwendung. Dabei werden die geometrischen Fluktuationen des Plasmafreistrahls mit verschiedenen Methoden bezüglich ihrer Korrelation untersucht und zur Ermittlung der Strömungsrichtung und Geschwindigkeit genutzt.
Durch korrelierte Auswertung der Emissions- und Absorptionsspektren kann die Meßgenauigkeit der Kurzzeitspektren deutlich verbessert
werden.
Die simultanen Auswirkungen der optischen Dichte auf die Linienprofile werden zur Dichtebestimmung genutzt. Aus Strömungsprofilen und
-geschwindigkeiten ist eine Evaluierung der Erosionsraten in situ möglich. Diese werden mit anderen in situ- und ex situ–Messungen verglichen.