Bonn 2000 – wissenschaftliches Programm
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Q: Quantenoptik
Q 38: Poster: Optische Technik
Q 38.1: Poster
Donnerstag, 6. April 2000, 16:30–19:30, Aula
Strahlcharakterisierung mit dem Shack-Hartmann-Verfahren — •Bert Neubert1, Günter Huber1 und Wolf Dieter Scharfe2 — 1Institut für Laser-Physik, Universität Hamburg — 2Rofin-Sinar Laser GmbH, Hamburg
Für Gebrauch und Anwendung von Lasern ist die Strahlqualität von entscheidender Bedeutung. Die gebräuchlichsten Parameter zur Strahlcharakterisierung sind M2, Taillendurchmesser und Taillenlagen.
Das Shack-Hartmann-Verfahren mißt gleichzeitig das Phasenprofil sowie die Intensitätsverteilung des Strahls an einer Stelle. Die gewünschten Qualitäts-Parameter lassen sich aus einer einzigen Messung berechnen. Im Gegensatz zu vielen anderen Verfahren wird also nicht die Propagation des Beamdurchmessers vermessen, sondern mit Hilfe der Phase berechnet. Die Kenntnis von Intensität und Phase erlaubt es zudem, das elektrische Feld selber abzuschätzen.
Es werden die Ergebnisse von einigen Messungen an Festkörperlasern vorgestellt und die Vor- und Nachteile des Verfahrens diskutiert.