Bonn 2000 – scientific programme

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Q: Quantenoptik

Q 38: Poster: Optische Technik

Q 38.4: Poster

Thursday, April 6, 2000, 16:30–19:30, Aula

Ein Wellenlängenmessgerät und Fourierspektrometer hoher Genauigkeit — •Uwe Sterr und Hans–Peter Weßelhöft — Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Bundesallee 100, 38116 Braunschweig

Zur routinemäßigen Kalibrierung von Laserquellen im sichtbaren und nahen infraroten Spektralbereich wurde ein interferometrisches Wellenlängenmessgerät aufgebaut, das neben der Wellenlänge das Modenspektrum des zu kalibrierenden Lasers ermittelt.

Der optische Aufbau besteht aus einem Planspiegel-Michelson-Interferometer, dessen Endspiegel um 1,7 m verfahren werden kann. Um störende Einflüsse durch die Dispersion und Turbulenzen der Luft zu vermeiden, ist das gesamte Gerät im Vakuum aufgebaut. Die Strahlung des zu messenden Lasers und eines 633 nm Referenz-HeNe-Lasers können wahlweise über eine Glasfaser oder über ein Raumfilter in das Gerät eingekoppelt werden, um eine gute Parallelität und einen guten räumlichen Überlapp zu gewährleisten. Die Parallelität der Verschiebung wird aus dem räumlichen Interferenzbild des Referenzlasers elektronisch geregelt. Durch Verwendung von Reflexionsoptiken wird ein breitbandiger Messbereich von 400 nm bis 1600 nm erreicht.

Während der Spiegelbewegung werden die Interferenzsignale des zu messenden Lasers digitalisiert, digital gefiltert und on-line in ihrer Datenmenge reduziert, so dass im Anschluss das Spektrum im interessierenden Wellenlängenbereich sehr schnell bestimmt werden kann. Für die Bestimmung der Laser-Wellenlänge aus dem Spektrum und aus den Interferenzdaten werden verschiedene Methoden vorgestellt.