Bonn 2000 – scientific programme

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Q: Quantenoptik

Q 8: Halbleiterlaser

Q 8.5: Talk

Tuesday, April 4, 2000, 15:00–15:15, HS XII

Experimentelle Untersuchung der Emissionseigenschaften von Trapezverstärkern in Abhängigkeit von der Dimensionierung und Strukturierung der aktiven Zone — •Claus Seibert, E. Gehrig, D. Woll, A. Robertson und R. Wallenstein — Fachbereich Physik, Erwin-Schrödinger-Str. 46, 67663 Kaiserslautern, seibert@physik.uni-kl.de

Für viele Anwendungen ist die Erzielung hoher räumlich-spektraler Leistungsdichten entscheidend, so daß eine systematische Untersuchung der Abhängigkeit der Emissionseigenschaften vom Verstärkerdesign erforderlich ist. Die Emissionseigenschaften von Hochleistungs-Trapezverstärkern werden durch die Eingangs-Ausgangsleistungs-Kennlinien, die Leistung im beugungsbegrenzten Strahl und das Emissionsspektrum beschrieben. Diese Größen hängen von der Strukturierung (Gewinn- bzw. Indexführung) und Dimensionierung (Wellenleiterlänge, Trapezlänge und Trapezwinkel) ab und legen die räumlich-spektrale Leistungsdichte fest. Ein Maß für die räumliche Strahlqualität ist der Leistungsanteil im beugungsbegrenzten Strahl. Dieser wurde für Trapezverstärker mit verschiedenen Trapezwinkeln, Wellenleiterlängen und unterschiedlicher Strukturierung der aktiven Zone untersucht. Weiterhin wurde für diese Verstärker das Spektrum in Abhängigkeit von der Eingangsleistung und dem Injektionsstrom gemessen. Von besonderer Bedeutung sind hierbei die Leistungsanteile der spektral schmalbandigen Signalstrahlung und der breitbandigen verstärkten Spontanemission. Die systematischen Untersuchungen bilden eine Basis für die Optimierung der Emissionseigenschaften von Halbleiter-Trapezverstärkern.