Bonn 2000 – scientific programme

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SYCF: Cluster und Fullerene

SYCF 2: Freie und deponierte Cluster

SYCF 2.3: Invited Talk

Tuesday, April 4, 2000, 15:20–16:00, HS VIII

Cluster auf Oberflächen: Hochaufgelöste Spektroskopie bei tiefen Temperaturen — •H.  Hövel — Universität Dortmund, Experimentelle Physik I, D-44221 Dortmund

Die Kombination von Ultraviolett-Photoemission (UPS) und Rastertunnelmikroskopie und -spektroskopie (STM und STS) ist speziell für die Untersuchung der komplexen geometrischen und elektronischen Eigenschaften von Clustern und anderen Nanostrukturen vorteilhaft. Der Einsatz von tiefen Temperaturen ermöglicht dabei hohe Energieauflösungen in beiden Spektroskopien. Als Test- und Modellsystem hierfür werden Edelgas-Adsorbatschichten [1] und ihr Einfluß auf Oberflächenzustände von Metalloberflächen vorgestellt.

Cluster lassen sich durch kontrolliertes Wachstum auf einer nanostrukturierten Graphitoberfläche präparieren [2]. Eine Erweiterung dieses Präparationsverfahrens erlaubt die Herstellung von Kohlenstoff-Nanoröhren im Ultrahochvakuum. Insbesondere werden Silbercluster diskutiert, bei denen wir durch hochaufgelöste UPS Messungen eine Wechselwirkung mit der Graphitoberfläche auf einer Femtosekunden Zeitskala nachweisen konnten [3]. STS Daten der Silbercluster zeigen bei T = 5 K ausgeprägte Maxima in den dI/dV-Spektren, mit Breiten von teilweise nur 20 meV, sowie eine starke Clustergrößen-Abhängigkeit.

[1] B. Grimm, H. Hövel, M. Pollmann, B. Reihl, Phys. Rev. Lett. 83, 991 (1999); [2] H. Hövel, Th. Becker, A. Bettac, B. Reihl, M. Tschudy, E.J. Williams, J. Appl. Phys. 81, 154 (1997); [3] H. Hövel, B. Grimm, M. Pollmann, B. Reihl, Phys. Rev. Lett. 81, 4608 (1998).

Diese Arbeit wird durch die DFG gefördert (Ho 1597/3-1).