Regensburg 2000 – wissenschaftliches Programm

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AM: Magnetismus

AM 1: Mikromagnetismus, Magnetisierungsprozesse und Domänenstrukturen I

AM 1.6: Vortrag

Montag, 27. März 2000, 11:00–11:15, H10

Magneto-optisches SNOM mit Sagnac-Interferometer: Vergleich mit konventioneller Polarisationsanalyse — •G. Meyer, D. Wegner, T. Crecelius, A. Bauer und G. Kaindl — Institut für Experimentalphysik, Freie Universität Berlin, Arnimallee 14, D-14195 Berlin

Die Untersuchung von Ummagnetisierungsprozessen in dünnen Filmen verlangt eine magnetische Meßmethode mit hoher lateraler Auflösung, wie sie die magneto-optische Raster-Nahfeld-Mikroskopie (SNOM) bietet. Kerr- oder Faradayeffekt werden dabei gewöhnlich durch eine Polarisationsanalyse des reflektierten bzw. transmittierten Lichtes bestimmt. Bei SNOM treten u.a. durch Doppelbrechungen an der Probenoberfläche jedoch zusätzliche Polarisationsänderungen auf, die die magneto-optischen Effekte überlagern. Mit einem Sagnac-Interferometer gelingt die Trennung von beiden, da es nur solche Phänomene detektiert, bei denen die Symmetrie der Zeitumkehr gebrochen ist. Das sind hier nur die magneto-optischen Effekte. In einem Vergleich mit der konventionellen Methode zeigen wir die geringere Artefaktempfindlichkeit und höhere Sensitivität des Sagnac-SNOM. Zudem stellen wir erste Messungen von Ummagnetisierungsprozessen in Co/Pt-Filmen vor.

[1] B. L. Petersen, A. Bauer, G. Meyer, T. Crecelius, and G. Kaindl, Appl. Phys. Lett. 73, 538 (1998)

[2] A. Bauer, B. L. Petersen, T. Crecelius, G. Meyer, D. Wegner, and G. Kaindl, J. Microscopy 194, 507 (1999)