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AM: Magnetismus

AM 13: Postersitzung: Dünne Schichten (1–22), Magnetowiderstand (23–40), Phasenübergänge (41–55), Mikromagnetismus (56–68), Spektroskopie (69–77), Nanokristalline Materialien (78–82), Anisotropie (83–86), Schmelzen (87–90), Weitere Bereiche (91–100)

AM 13.37: Poster

Dienstag, 28. März 2000, 16:00–20:00, A

Temperaturabhängigkeit des Riesenmagnetwiderstands in Co/Cu- und NiFe/Cu-Viellagenschichten: ein Beweis für die Rolle des size-Effekts ? — •D. Elefant¹, L. van Loyen¹, R. Kaltofen¹, D. Tietjen¹, H. Vinzelberg¹, S. Zotova² und C.M. Schneider¹ — ¹IFW Dresden, Helmholtzstraße 20, 01069 Dresden — ²IE-BAS, Tzarigradsko Chaussee 77, 1784 Sofia, Bulgarien

Die Ursache für den Riesenmagnetwiderstand in metallischen Multilagen mit magnetischen Komponenten ist nach wie vor in Diskussion.

Durch Magnetronsputtern wurden Co/Cu- und Ni₈₀Fe₂₀/Cu-Viellagenschichten jeweils im Bereich des 1. und 2. antiferromagnetischen Kopplungsmaximums hergestellt und der Riesenmagnetwiderstand ( bis zu 80% ) im Temperaturgebiet T = 4.2…300 K bestimmt. Hinweise für den size-Effekt als mögliche mittelbare Ursache des Riesenmagnetwiderstands werden anhand der Ergebnisse diskutiert unter Einbeziehung der Temperaturabhängigkeit der Kennlinien von NiO/Ni₈₀Fe₂₀(Co)/Cu/Ni₈₀Fe₂₀-spin valves.