Regensburg 2000 – wissenschaftliches Programm

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AM: Magnetismus

AM 13: Postersitzung: Dünne Schichten (1–22), Magnetowiderstand (23–40), Phasenübergänge (41–55), Mikromagnetismus (56–68), Spektroskopie (69–77), Nanokristalline Materialien (78–82), Anisotropie (83–86), Schmelzen (87–90), Weitere Bereiche (91–100)

AM 13.95: Poster

Dienstag, 28. März 2000, 16:00–20:00, A

Hochempfindliches ‚Alternating Gradient Magnetometer‘  mit optischem Detektionsverfahren — •S. Eckmann, H. Brückl und G. Reiss — Universität Bielefeld

Das ‚Alternating Gradient Magnetometer‘ (AGM) ist ein hochauflösendes Gerät für Magnetisierungsmessungen, das sich sowohl temperaturvariabel als auch im Ultrahochvakuum zur in-situ Analyse einsetzen lässt. In herkömmlichen Geräten dienen piezoelektrische Elemente zur magnetischen Kraftaufnahme. Wir haben ein verbessertes AGM mit optischem Detektionsverfahren entwickelt und getestet. Das optische Verfahren funktioniert analog zu den Kraftaufnehmern in Rasterkraftmikroskopen und ist robuster als die piezoelektrische Alternative. Wir haben Empfindlichkeitstests an weichmagnetischen Ni₈₀Fe₂₀ Drähten und Schichten mit Volumina bis unter 2· 10¹² nm³ durchgeführt. Damit lässt sich eine Auflösungsgrenze von 7.5·10⁻¹¹ Am² für das magnetische Moment ableiten.