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AM: Magnetismus
AM 14: Magnetowiderstand I: Manganate
AM 14.6: Vortrag
Mittwoch, 29. März 2000, 15:30–15:45, H10
Untersuchung der Mikrostruktur von Korngrenzen in dotierten Manganaten mittels hochauflösender Transmissions-Elektronenmikroskopie — •Christopher Recher1, Bernd Wiedenhorst1, Jan Boris Philipp1, Conrad Höfener1, Jürgen Klein1, Lambert Alff1, Werner Mader2 und Rudolf Gross1 — 1II. Physikalisches Institut, Lehrstuhl für Angewandte Physik, Universität zu Köln, Zülpicher Str. 77, D - 50937 Köln — 2Institut für Anorganische Chemie, Universität Bonn, D - 53117 Bonn
Die Mikrostruktur von epitaktischen La2/3D1/3MnO3-Filmen mit D=Ca, Sr und Ba auf 36∘-[001]-Bikristallsubstraten (SrTiO3) wurde mit Hilfe hochauflösender Transmissions-Elektronenmikroskopie untersucht. Der Bereich der durch das Bikristallsubstrat erzeugten Einzelkorngrenze weist strukturelle Störungen auf, deren räumliche Ausdehnung einige nm beträgt und sowohl von der verwendeten Herstellungsmethode (Laserdeposition bzw. Hohlkathoden-Magnetron-Sputtern) als auch von der Dotierung abhängt. Der Film wächst in dem Bereich der Grenzschicht zum Bikristallsubstrat nicht vollständig epitaktisch auf und es kommt zu Fehlstellen in der Gitterstruktur. Weiterhin beobachtet man Spannungskontraste im Bereich der Korngrenze, die auf eine verstärkte Verspannung des Films im Korngrenzenbereich hindeuten. Die Größe dieser Verspannung hängt unter anderem von dem Dotieratom D ab, durch das die Gitterfehlanpassung zwischen Substrat und Film bestimmt wird. Die Auswirkungen dieser Verspannungen auf das Transportverhalten werden diskutiert.
Gefördert durch die DFG.