DF 5: Keramiken
Dienstag, 28. März 2000, 14:30–17:30, H11
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14:30 |
DF 5.1 |
Hauptvortrag:
Charakterisierung keramischer Ultrafiltrationsmembranen über elektrokinetische Messungen — •G. Tomandl, T. Moritz und P. Arki
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15:10 |
DF 5.2 |
Untersuchung freier Volumen in Si(B)CN-Keramiken mit der Positronenlebensdauerspektroskopie — •K. Reichle, M. Christ, J. Canel, F. Aldinger und H.-E. Schaefer
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15:30 |
DF 5.3 |
Negative thermische Expansion in ZrW2O8 mit 187W(β−)187Re–TDPAC — •N. Ulbrich, W. Tröger, T. Butz und P. Blaha
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15:50 |
DF 5.4 |
PAC Messungen zur Charakterisierung von Strahlenschädigung in ZrSi4 — •H. Jaeger, M. Rambo, M. Uhrmacher und K.-P. Lieb
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16:10 |
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20 min. break
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16:30 |
DF 5.5 |
Epitaxial growth of SrBi2Ta2O9 ferroelectric thin films on Silicon — •Juan Carlos Martinez, Jens Schumacher, Roberto Ratieri, Dana Miu, Markus Maier, Hans-Jürgen Butt, and Hermann Adrian
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16:50 |
DF 5.6 |
Selektives Schalten einzelner Domaenen in (111) PZT und (100) SBT Filmen — •Zybill Christian
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17:10 |
DF 5.7 |
Size effect in Mn2+ doped barium titanate nanopowders observed by means of EPR — •Rolf Boettcher, Carola Klimm, Christoph Semmelhack, Georg Voekel, Hans-Juergen Glaesel, and Eberhard Hartmann
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