Regensburg 2000 – wissenschaftliches Programm

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DS: Dünne Schichten

DS 11: In-situ-Charakterisierung III

DS 11.3: Fachvortrag

Dienstag, 28. März 2000, 10:00–10:15, H31

In-situ- und Echtzeit-Beobachtung des Wachstums kristalliner organischer Schichten mit Synchrotronstreutechniken — •Frank Schreiber¹, Ken Ritley², Baerbel Krause², Arndt Duerr², Detlef Smilgies³ und Helmut Dosch¹ — ¹ITAP, Universitaet Stuttgart, 70550 Stuttgart — ²MPI fuer Metallforschung, 70569 Stuttgart — ³ESRF, BP 220, F-38043 Grenoble

Roentgenstreutechniken zur Charakterisierung duenner Schichten bieten verschiedene Vorteile, wie z.B. die hohe Aufloesung und die direkte quantitative Auswertbarkeit der Streusignale in kinematischer Theorie. Die hohe Brillianz moderner Synchrotronstrahlungsquellen hat weitere Moeglichkeiten eroeffnet, deren Anwendung auf die Beobachtung des Wachstums kristalliner organischer Schichten in situ und in Echtzeit hier dargestellt wird. Die Ausnutzung von in-plane-Bragg-Peaks wird am Beispiel von selbst-organisierenden Monoschichten erlaeutert. Die integrierte Intensitaet als Funktion der Zeit liefert die Wachstumsrate einer gegebenen Phase, waehrend die Peakbreite Aufschluss ueber das Domaenenwachstum und Prozesse wie z.B. Ostwald-Reifung erlaubt. Die Bestimmung der out-of-plane-Struktur und des Wachstumsmodus wird fuer den Fall organischer Epitaxieschichten mit Stranski-Krastanov-Wachstum demonstriert. Dabei werden am Anti-Bragg-Punkt (out-of-plane) Oszillationen als Funktion der Verdampfungszeit beobachtet. Diese aehneln denen in der RHEED-Technik, haben jedoch einen anderen Ursprung und sind direkt in kinematischer Theorie auswertbar.