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DS: Dünne Schichten
DS 14: Schichtcharakterisierung I
Dienstag, 28. März 2000, 16:15–17:00, H31
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16:15 | DS 14.1 | Fachvortrag: Blockingspektroskopie mit MeV Ionenstrahlen zur Charakterisierung kristalliner dünner Schichten und zur Lokalisierung von Fremdatomen in Einkristallen — •Hans Hofsäss, Carsten Ronning, Stefano Virdis, Michael Uhrmacher, Felix Harbsmeier, Sankar Dhar und Klaus-Peter Lieb |
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16:30 | DS 14.2 | Fachvortrag: Charakterisierung dünner SBT-Filme auf Elektroden mit Schichtstruktur mittels Röntgenreflektivität — •Markus Aspelmeyer, Uwe Klemradt und Günther Schindler |
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16:45 | DS 14.3 | Fachvortrag: Hochauflösende transmissionselektronenmikroskopische Untersuchung der Mikrostrukturen von IBAD-hergestellten biaxial texturierten YSZ- und laserdeponierten YBCO-Schichten — •L.O. Kautschor, J. Dzick, C. Jooss, J. Hoffmann und H.C. Freyhardt |