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Regensburg 2000 – scientific programme

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DS: Dünne Schichten

DS 25: Metallische Schichten

DS 25.1: Fachvortrag

Wednesday, March 29, 2000, 14:00–14:15, H32

Messung der Phononenzustandsdichte mit inelastischer kernresonanter Streuung an dünnen metallischen Schichten — •T. Ruckert1, W. Keune1, W. Sturhahn2 und E.E. Alp21Angewandte Physik, Univ. Duisburg, D-47048 Duisburg — 2Advanced Photon Source, Argonne National Laboratory, Argonne, IL 60439, USA

Die inelastische kernresonante Streuung von Synchrotronstrahlung der Kernresonanz des 57Fe bei 14.4125 keV kann dazu genutzt werden, direkt die eisenprojizierte Phononenzustandsdichte (DOS) zu messen. Diese Methode erlaubt die Bestimmung der DOS in sehr dünnen Filmen oder an Grenzflächen. Dazu präparierten wir mittels MBE im UHV amorphe Tb1−x57Fex-Legierungsfilme. Diese Proben zeigen deutliche Unterschiede in der Phononenzustandsdichte und dem Debye-Waller-Faktor in Abhängigkeit von der Konzentration. Um die DOS des Eisen in kristallinen Systemen speziell auch an Grenzflächen zu messen, präparierten wir epitaktische bcc-Fe/Cr(001)-Vielfachschichten (200 Schichtpaare mit je 8 Monolagen) auf MgO(001). Dabei wurden 1 Å dicke 57Fe-Sondenschichten in der Fe-Schichtmitte, an den Fe/Cr-Grenzflächen und zwischen Cr(001) plaziert, um die DOS an verschiedenen Stellen zu messen. Zusätzlich wurden epitaktische Fe/Cr(001)-Legierungen mit 1at.% und 3at.% Fe untersucht. Verglichen mit der DOS von massiven α-Fe zeigt die DOS in diesen Schichten eine deutliche Abhängigkeit von der Anzahl der Cr-Nachbaratome. Anscheinend entwickelt sich mit zunehmender Anzahl der Cr Nachbarn ein resonanter Fe-DOS-Peak mit kleiner Dispersion.
Gefördert durch die DFG (Ke273/17-1).

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