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HL: Halbleiterphysik

HL 18: Halbleiterlaser

HL 18.13: Vortrag

Dienstag, 28. März 2000, 18:00–18:15, H14

Abbildung von Stromfilamenten und deren raum-zeitlicher Dynamik in p-Ge mittels eines Tieftemperatur-Raster-Laser-Mikroskops — •Lars Bornemann, Jürgen Parisi und Achim Kittel — Carl von Ossietzky Universität Oldenburg, Fachbereich Physik

Wir haben ein Tieftemperatur-Raster-Laser-Mikroskop aufgebaut, womit es möglich ist Messungen bei Temperaturen des flüssigen Heliums an Halbleiter-Bauelementen, unter zusätzlichem Magnetfeld, durchzuführen. Das Mikroskop und der zu untersuchende Halbleiter befinden sich in einem evakuierten und vollständig in flüssigem Helium befindlichen Probenraum. Hierdurch wird erreicht, daß die zu untersuchende Probe vollständig von Infrarot-Hintergrundstrahlung abgeschirmt ist. Ziel dieses Aufbaus ist es, homogen dotiertes Germanium zu untersuchen, das, wie aus der Literatur bekannt, eine spontane Stromfilamentierung mit reichhaltiger Dynamik zeigt. Mit dem Mikroskop ist es erstmalig möglich, ohne störende IR-Hintergrundstrahlung die Proben räumlich aufgelöst zu untersuchen. Als weiterer Kontrollparameter kann ein zusätzliches Magnetfeld Aufschluß über die Dynamik der Stromfilamente geben.